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<お知らせ>「アジレント・シンポジウム・シリーズ2009」の一環として、「EMI・ノイズ測定シンポジウム」と「コンポーネント・テスト・シンポジウム」を東京、大阪の2会場で開催
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2009年4月15日
アジレント・テクノロジー株式会社(社長:海老原 稔、本社:東京都八王子市高倉町9番1号)は、「アジレント・シンポジウム・シリーズ2009」の第2弾として、「EMI・ノイズ測定シンポジウム」(6月2日(火)大阪会場、6月4日(木)東京会場)、「コンポーネント・テスト・シンポジウム」(6月1日(月)大阪会場、6月4日(木)東京会場)を開催することをお知らせします。両シンポジウムの参加者460人の募集を本日より開始します。
5月12日(火)から7月9日(木)にかけて、東京、横浜、大阪の3都市で、デジタルおよびRF(高周波)関連のエレクトロニクス技術者向け無料セミナ「アジレント・シンポジウム・シリーズ2009」を開催しています。今回実施する「EMI・ノイズ測定シンポジウム」、および「コンポーネント・テスト・シンポジウム」はこの一環として開催するもので、高周波回路をともなう電子部品/モジュールの開発・設計・評価や、EMC/ノイズ対策に携わるエンジニアを対象としています。
「EMI・ノイズ測定シンポジウム」、および「コンポーネント・テスト・シンポジウム」の受講料は無料ですが、事前登録が必要となります。セミナの詳細や申し込み方法については、別紙1、2または以下のウェブサイトをご覧ください。
http://www.agilent.co.jp/find/sympo_w1-5
《別紙1》
「EMI・ノイズ測定シンポジウム」概要
*日時・会場: |
2009年6月2日(火)午後1時~午後5時20分
(午後12時30分受付開始)
ニッセイ新大阪ビル13階 会議室
(大阪府大阪市淀川区宮原3-4-30ニッセイ新大阪ビル13階)
2009年6月4日(木)午後1時~午後5時20分
(午後12時30分受付開始)
秋葉原コンベンションホール
(東京都千代田区外神田1-18-13 秋葉原ダイビル2階) |
| *対 象: |
EMC/ノイズ対策に携わるエンジニア(特にデジタル・エンジニア)向け
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| *受講料: |
無料(事前申込制) |
| *募集人数: |
230人(大阪会場:80人、東京会場:150人) |
| *申込方法: |
以下のウェブサイトからの申し込み
http://www.agilent.co.jp/find/sympo_w1-5 |
*セミナ概要
| セッション1 : デジタルエンジニアのための周波数ドメインでのノイズ評価基礎 |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 草薙 仁
デジタルエンジニアにとって、EMIの法規制とその周波数軸測定ツールは実際のデジタルデバッグ現場においては使用されませんが、最終的な商品のEMI適合性を考える上で重要な知識です。実際に最終試験のEMI規制とその測定法などを理解することはEMI対策エンジニアと話す上でも必要となってきます。このセッションではEMIの規制に関する基礎的な知識について言及し、また周波数軸評価で使用されるスペクトラムアナライザやFFTアナライザを利用する場合の利点や、測定上の注意点、勘所について話を進めていきます。セッション2を受ける前提条件となる話となります。
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| セッション2 : EMIノイズ対策のための高速デジタル回路設計とデバッグ手法 - 時間・周波数両ドメインからのアプローチ - Part1 |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
池原 司益、小室 行央、関口 博一
数百Mbpsから数Gbpsの高速信号伝送は基板に部品を実装して接続するだけではうまくいきません。高周波での信号のふるまいを理解した伝送路設計とデバッグが重要になります。このセッションでは、高速差動伝送路設計の基礎を踏まえたうえで、安定した通信品質を実現するための新しいデバッグ手法、すなわち、周波数軸での伝送路特性評価、周波数軸でのノイズ評価および時間軸での波形評価を有機的に融合させたデバッグ手法を提案します。
(休憩をはさんでPart 1、Part 2の二部構成となります)
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セッション3 : EMIノイズ対策のための高速デジタル回路設計とデバッグ手法
- 時間・周波数両ドメインからのアプローチ - Part2 |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部
池原 司益、小室 行央、関口 博一
数百Mbpsから数Gbpsの高速信号伝送は基板に部品を実装して接続するだけではうまくいきません。高周波での信号のふるまいを理解した伝送路設計とデバッグが重要になります。このセッションでは、高速差動伝送路設計の基礎を踏まえたうえで、安定した通信品質を実現するための新しいデバッグ手法、すなわち、周波数軸での伝送路特性評価、周波数軸でのノイズ評価および時間軸での波形評価を有機的に融合させたデバッグ手法を提案します。
(休憩をはさんでPart 1、Part 2の二部構成となります) |
《別紙2》
「コンポーネント・テスト・シンポジウム」概要
*日時・会場: |
2009年6月1日(月)午後1時~午後5時(午後12時30分受付開始)
ニッセイ新大阪ビル13階 会議室
(大阪府大阪市淀川区宮原3-4-30ニッセイ新大阪ビル13階)
2009年6月4日(木)午後1時~午後5時(午後12時30分受付開始)
秋葉原コンベンションホール
(東京都千代田区外神田1-18-13 秋葉原ダイビル2階) |
| *対 象: |
高周波回路をともなう電子部品/モジュールの開発・設計・評価に携わるエンジニア向け
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| *受講料: |
無料(事前申込制) |
| *募集人数: |
230人(大阪会場:80人、東京会場:150人) |
| *申込方法: |
以下のウェブサイトからの申し込み
http://www.agilent.co.jp/find/sympo_w1-5 |
*セミナ概要
| セッション1 :新しいコンセプトのネットワーク・アナライザを用いたテスト・システムの簡素化・効率化 |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 戸髙 嘉彦
従来、アクティブデバイスの評価においては単体測定を組み合わせてNF、IMD、ゲインコンプレッション、Pulsed-Sパラメータ等複雑な測定システムを実現してきました。難点はシステムが複雑になることに加え、物理サイズも大きくなる点です。そこでアジレントは信号経路切り替え用のスイッチや、信号合成用のコンバイナ等のアクセサリを本体内部に統合した新しいコンセプトのPNA-Xネットワークアナライザを核とすることで、お客様のテスト環境の効率化を実現しました。このセミナではその卓越したコンセプトと、そのコンセプトを支える各種測定機能ならびにプラットフォームと、どのようにそのコンセプトを生かしての効率化が可能かを紹介します。
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| セッション2 :非線形素子の新しい評価方法~Xパラメータの測定と非線形シミュレーションへの適用~ |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 井上 賢一
高周波回路の非線形性は隣接チャネル漏洩電力、スプリアス等の性能を決定する重要な要因です。非線形性は、基本波と高調波のベクトル量によって表されますが、従来からの方法では、高調波成分は振幅のみの測定に留まります。そこで、このセッションでは、高調波の振幅だけでなく位相の測定ができ、さらにロードプル測定まで組み合わせることができる非線形ベクトルネットワークアナライザ (NVNA)を紹介します。このNVNAでは、非線形のシミュレーションに利用できるXパラメータを取得することができ、そのデータを使うことでミスマッチ等を考慮したより効率の良い回路設計が可能となります。 |
| セッション3 :最新のネットワークアナライザの導入メリットとスムーズな置き換えの為のヒント |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 長谷川 寛
開発や製造における設備の最適化、効率化は身体の健康チェックと同じでいかなる状況においても継続して行うことが重要です。衰えている部分を見直し、不要な部分を落としていくことが環境の急激な変化(新規格やテクノロジーの進歩など)に対応できる強い体質づくりとなります。このセッションでは、現有の設備の見直しのポイントと最新の測定器を導入することのメリット、置き換えのためのヒントを紹介します。 |
| セッション4 :もうデバイス評価の壁にぶつからない。ネットワークアナライザとシミュレータの融合による解決の勘所 |
講師:当社 電子計測本部 アプリケーション・エンジニアリング部 大津谷 亜士
電子部品・モジュールの設計・評価・量産において、ネットワークアナライザ単体の機能だけでは要求事項を満たすことはできなかったという経験はありませんか? 測定器を使用する上で、測定用治具部分の補正、3GHz以上のインピーダンス測定、複雑な等価回路解析、煩雑なマッチング回路設計、自動測定の高速化は誰しもがぶつかる壁です。このセッションでは、実際のデバイス評価において起こりえる課題を、ネットワークアナライザとVBAやシミュレータを融合させることによりいかに解決ができるかを紹介します。 |
以上
アジレント・テクノロジーについて
アジレント・テクノロジー(NYSE:A)は、コミュニケーション、エレクトロニクス、ライフサイエンス、化学分析市場における世界のプレミア・メジャメント・カンパニーであり、またテクノロジー・リーダーでもあります。19,000名の従業員を擁し、110カ国以上でビジネスを展開しています。アジレントは、2008年度、58億ドルの売上高を達成しました。アジレント・テクノロジーの情報は、以下のウェブサイトでご覧ください。
http://www.agilent.co.jp
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お客様からのお問い合わせ先:
計測お客様窓口 電話:0120-421-345
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